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J750

J750系统在其零占地面积的一个测试头上可提供高达512个数字通道，J750具有强大的并行测试能力，并行测试效率高达95%。该系统还可以针对低端和中档半导体市场不同的测试需求提供多种测试选件，包括转换器测试选件，存储器测试选件，混合信号测试选件，扫描测试选件，冗余分析和模拟参数测试选件。