T2000集成了各种各样的功 能。以控制消费类产品的微处理器为中心，搭载了诸如图像处理引擎、与为存储处理数据用 的外部 DRAM 的接口、将图像/声音等模拟输入转换为数字数据的 A/D 转换器及输出模拟信 号的 D/A 转换器等多种功能。T2000 采用模块化的开放式架构。T2000 LSMF 由模块 电源、控制用计算机和冷却装置等构成，最大可安装 26 枚模块。通过 26 枚符合 STC 标准 的模块的组合，可以根据对象芯片的要求构成最适合的测试系统。

J750系统在其零占地面积的一个测试头上可提供高达512个数字通道，J750具有强大的并行测试能力，并行测试效率高达95%。该系统还可以针对低端和中档半导体市场不同的测试需求提供多种测试选件，包括转换器测试选件，存储器测试选件，混合信号测试选件，扫描测试选件，冗余分析和模拟参数测试选件。

BC3192V50M 系统是基于当前国际先进VXI总线的数字集成电路测试系统，系统的最大优点就是它的软、硬件的开放性和标准化。可嵌入多家VXI测试模块，使得测试系统易于扩展、升级。系统符合VXI电、磁兼容标准。具有测试精度高、速度快等特点。系统设计采用模块化结构设计，每通道板可提供32路管脚电路，系统最大配置为8块通道板256路测试通道。最大测试速率为50MHz(非复用)，系统具有每8通道一路PMU 的多PMU特性。系统采用高速、高密度、低功耗电路设计及温度监控电路，使系统具有结构紧凑、功耗低、稳定性高的特点。

UF3000Ex探针台是为满足12寸晶圆测试而生产的，可实现8寸，12寸晶圆测试，可实现管芯大小为0.2*0.2mm的电路模块测试要求，最多可测试100万颗。

EG4000系列探针台是electroglas公司为满足200MM制造商而生产的,针对生产很多晶圆测试设备制造商来说,吞吐量是唯一最重要的晶圆测试方面的因素,,增加生产量和生产率,减少应用程序的要求或测试时间短的大量成本,40%-50%增进系统的吞吐量和降低生产成本。

UF200系列探针台是为满足200MM制造商而生产的,实现最小测试0.6*0.6um的8英寸集成电路模块的测试要求,最多可以测试15万颗。

NS8020主要应用于FT成品测试,与测试机相互配合,实现成品自动化测试,可实现4SITE并测,适用于QFP,TSOP,CSP,WLCSP,BGA,QFN,PLCC,LGA,PGA封装形式的测试。

NS6040主要应用于FT成品测试,与测试机相互配合,实现成品自动化测试,可实现4SITE并测,适用于QFP,TSOP,CSP,WLCSP,BGA,QFN,PLCC,LGA,PGA封装形式的测试。